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News Center恭喜恭喜!! 【安奈公司技術(shù)人員多次與科瑞達(dá)采購(gòu)人溝通、商討,上門量尺寸、設(shè)計(jì)、提供設(shè)計(jì)圖紙 】南京安奈試驗(yàn)設(shè)備有限公司在2020年07月15日與合肥科瑞達(dá)激光設(shè)備有限公司簽訂一臺(tái)步入式恒溫恒濕試驗(yàn)室
設(shè)計(jì)執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)
3.1 GB/T11158-2006 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
3.2 GB/T10592-2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
3.3 GB10586-2006 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件
3.4 GB10589-2006 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
3.5 GB/T2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫
3.6 GB/T2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫
3.7 GB/T2423.3-2006 試驗(yàn)Ca: 恒定濕熱試驗(yàn)
3.8 GB/T2423.4-2008 試驗(yàn)Db:交變濕熱試驗(yàn)方法
3.9 GB/T2423.34-2012 試驗(yàn)ZAD:溫濕度組合試驗(yàn)方法
3.10 GJB150A-2009 jun用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法
3.11 IEC61215-2016 美光伏檢測(cè)方法
四、驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn):
GB/T5170.5-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 濕熱試驗(yàn)設(shè)備
GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備
五、主要技術(shù)性能參數(shù)(空載狀態(tài)下)
5.1型 號(hào): GDJSS-022C
5.2內(nèi)部尺寸: 3000×3000×2500mm(深×寬×高)
5.3外形尺寸約:3650×3250×3100mm(深×寬×高,不含外置制冷機(jī)組部分及電控柜)
5.4溫度范圍: -40℃~110℃(空載、可調(diào))
5.5溫度波動(dòng)度:≤±0.5℃
5.6溫度偏差: ≤±2.0℃
5.7降溫速率: 0.7℃~1.0℃/min (受控溫度范圍:-40℃~85℃)
5.8升溫速率: 1℃~3℃/min (受控溫度范圍:-40℃~85℃)
5.9濕度范圍: 20%RH~98%RH(在15℃~85℃情況下)
5.10濕度偏差: ≤±3.0%RH (濕度>75%RH時(shí))
≥±3.0%RH (濕度<75%RH時(shí))
5.11加熱方式: 鎳鉻合電熱絲式
5.12制冷方式: 風(fēng)冷復(fù)迭機(jī)械壓縮制冷組
5.13均勻承重負(fù)載: ≤500KG/㎡
5.14噪音:≤75db(設(shè)備正前方1m,高度1.2m處)